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    三維輪廓儀測粗糙度:SuperView W光學(xué)3D表面輪廓儀功能詳解

    更新時(shí)間:2024-07-04      點(diǎn)擊次數:118

    在精密制造領(lǐng)域,表面粗糙度的測量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。光學(xué)3D表面輪廓儀為這一需求提供了解決方案。

    在半導體制造、3C電子、光學(xué)加工等高精度行業(yè),表面粗糙度的測量精度直接影響到產(chǎn)品的性能和可靠性。SuperView W系列光學(xué)3D表面輪廓儀正是為了滿(mǎn)足這一需求而設計的。

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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    SuperView W系列光學(xué)3D表面輪廓儀采用了白光干涉技術(shù),結合精密Z向掃描模塊和3D建模算法,能夠對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級的測量。這種非接觸式的掃描方式不僅避免了對被測物體的損傷,還提供了高測量精度和重復性。

    測量原理

    該系列輪廓儀的工作原理基于光學(xué)干涉技術(shù),通過(guò)白光LED作為光源,對被測物體表面進(jìn)行照射。由于白光具有寬廣的光譜,能夠提供更高的測量精度和分辨率。通過(guò)精密的Z向掃描,設備能夠捕捉到物體表面的微觀(guān)形貌,并利用3D建模算法重建出物體的3D圖像。

    應用領(lǐng)域

    SuperView W系列光學(xué)3D表面輪廓儀的應用領(lǐng)域非常廣泛,包括但不限于半導體制造、3C電子產(chǎn)品的玻璃屏、光學(xué)元件的曲率和輪廓尺寸測量、超精密加工、微納材料制造、汽車(chē)零部件以及航空航天和科研院所的研究工作。

    性能特色

    1. 高精度與高重復性:采用的光學(xué)干涉技術(shù)和精密Z向掃描模塊,確保了測量的高精度。

    2. 環(huán)境噪聲檢測功能:能夠定量評估外界環(huán)境對測量的干擾,為設備調試和故障排查提供數據支持。

    3. 精密操縱手柄:集成了X、Y、Z三個(gè)方向的位移調整功能,使得測量前的準備工作更加快捷。

    4. 雙重防撞保護措施:軟件和硬件雙重保護,最大限度降低操作風(fēng)險。

    5. 雙通道氣浮隔振系統:提供了穩定的工作環(huán)境,即使在沒(méi)有外接氣源的情況下也能正常工作。

    技術(shù)指標

    SuperView W系列提供了多種型號,以滿(mǎn)足不同用戶(hù)的需求。它們的技術(shù)指標包括但不限于光源、影像系統、干涉物鏡、光學(xué)ZOOM、標準視場(chǎng)、物鏡塔臺、XY位移平臺等,均以高標準設計,確保測量結果的準確性和可靠性。

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    光學(xué)3D表面輪廓儀以其高精度、高重復性和強大的功能,為精密制造業(yè)提供了一個(gè)可靠的測量工具。無(wú)論是在科研還是在工業(yè)生產(chǎn)中,它都能幫助用戶(hù)獲得精確的表面粗糙度數據,從而提升產(chǎn)品質(zhì)量,滿(mǎn)足日益嚴格的行業(yè)標準。

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